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本帖最后由 twq19810302 于 2023-8-19 10:52 編輯 2 H! ?+ t1 h* M5 {; D- o
* A6 M8 {0 s1 v3 R如今隨著芯片制程的不斷提升,芯片中可以有100多億個(gè)晶體管,如此之多的晶體管,究竟是如何安上去的呢?
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6 N# C7 N& T+ n+ N' W這是一個(gè)Top-down View 的SEM照片,可以非常清晰的看見CPU內(nèi)部的層狀結(jié)構(gòu),越往下線寬越窄,越靠近器件層。" B/ g, a9 s- i: H1 f( c
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( g5 R7 @4 m; L 這是CPU的截面視圖,可以清晰的看到層狀的CPU結(jié)構(gòu),芯片內(nèi)部采用的是層級(jí)排列方式,這個(gè)CPU大概是有10層。其中最下層為器件層,即是MOSFET晶體管。
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Mos管在芯片中放大可以看到像一個(gè)“講臺(tái)”的三維結(jié)構(gòu),晶體管是沒有電感、電阻這些容易產(chǎn)生熱量的器件的。最上面的一層是一個(gè)低電阻的電極,通過(guò)絕緣體與下面的平臺(tái)隔開,它一般是采用了P型或N型的多晶硅用作柵極的原材料,下面的絕緣體就是二氧化硅。
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平臺(tái)的兩側(cè)通過(guò)加入雜質(zhì)就是源極和漏極,它們的位置可以互換,兩者之間的距離就是溝道,就是這個(gè)距離決定了芯片的特性。
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當(dāng)然,芯片中的晶體管不僅僅只有Mos管這一種類,還有三柵極晶體管等,晶體管不是安裝上去的,而是在芯片制造的時(shí)候雕刻上去的。8 M( m$ i# D, X- D
& z7 h( F" |: ]在進(jìn)行芯片設(shè)計(jì)的時(shí)候,芯片設(shè)計(jì)師就會(huì)利用EDA工具,對(duì)芯片進(jìn)行布局規(guī)劃,然后走線、布線。
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) x9 p1 B6 z6 l8 S X V 如果我們將設(shè)計(jì)的門電路放大,白色的點(diǎn)就是襯底, 還有一些綠色的邊框就是摻雜層。8 s( W& C- o( I @# G
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a" F# m( C5 x+ [; y 晶圓代工廠就是根據(jù)芯片設(shè)計(jì)師設(shè)計(jì)好的物理版圖進(jìn)行制造。
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芯片制造的兩個(gè)趨勢(shì),一個(gè)是晶圓越來(lái)越大,這樣就可以切割出更多的芯片,節(jié)省效率,另外就一個(gè)就是芯片制程,制程這個(gè)概念,其實(shí)就是柵極的大小,也可以稱為柵長(zhǎng),在晶體管結(jié)構(gòu)中,電流從Source流入Drain,柵極(Gate)相當(dāng)于閘門,主要負(fù)責(zé)控制兩端源極和漏級(jí)的通斷。
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電流會(huì)損耗,而柵極的寬度則決定了電流通過(guò)時(shí)的損耗,表現(xiàn)出來(lái)就是手機(jī)常見的發(fā)熱和功耗,寬度越窄,功耗越低。而柵極的最小寬度(柵長(zhǎng)),也就是制程。2 v! F4 F! D C: Q* a- q" x! Y* @
; X% m& i) `5 D5 }縮小納米制程的用意,就是可以在更小的芯片中塞入更多的電晶體,讓芯片不會(huì)因技術(shù)提升而變得更大。7 G# X% G- w! y
; P% m1 i. |( n( ?但是我們?nèi)绻麑艠O變更小,源極和漏極之間流過(guò)的電流就會(huì)越快,工藝難度會(huì)更大。# V( |: J4 h% }/ G% b( {1 U4 q. R
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芯片制造過(guò)程共分為七大生產(chǎn)區(qū)域,分別是擴(kuò)散、光刻、刻蝕、離子注入、薄膜生長(zhǎng)、拋光、金屬化,光刻和刻蝕是其中最為核心的兩個(gè)步驟。! E# t6 x9 h$ g. P4 U K
# @. Q/ X; d0 n: |8 b0 j, o而晶體管就是通過(guò)光刻和蝕刻雕刻出來(lái)的,光刻就是把芯片制作所需要的線路與功能區(qū)做出來(lái)。
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利用光刻機(jī)發(fā)出的光通過(guò)具有圖形的光罩對(duì)涂有光刻膠的薄片曝光,光刻膠見光后會(huì)發(fā)生性質(zhì)變化,從而使光罩上得圖形復(fù)印到薄片上,從而使薄片具有電子線路圖的作用。7 I3 _+ v, {8 |: k
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這就是光刻的作用,類似照相機(jī)照相。照相機(jī)拍攝的照片是印在底片上,而光刻刻的不是照片,而是電路圖和其他電子元件。
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刻蝕是使用化學(xué)或者物理方法有選擇地從硅片表面去除不需要材料的過(guò)程。通常的晶圓加工流程中,刻蝕工藝位于光刻工藝之后,有圖形的光刻膠層在刻蝕中不會(huì)受到腐蝕源的顯著侵蝕,從而完成圖形轉(zhuǎn)移的工藝步驟。刻蝕環(huán)節(jié)是復(fù)制掩膜圖案的關(guān)鍵步驟。
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# z1 ^1 z& Q/ E; i; z* ? 而其中,還涉及到的材料就是光刻膠,我們要知道電路設(shè)計(jì)圖首先通過(guò)激光寫在光掩模板上,然后光源通過(guò)掩模板照射到附有光刻膠的硅片表面,引起曝光區(qū)域的光刻膠發(fā)生化學(xué)效應(yīng),再通過(guò)顯影技術(shù)溶解去除曝光區(qū)域或未曝光區(qū)域,使掩模板上的電路圖轉(zhuǎn)移到光刻膠上,最后利用刻蝕技術(shù)將圖形轉(zhuǎn)移到硅片上。
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* H. A {/ g( t+ O" Z+ _4 m 而光刻根據(jù)所采用正膠與負(fù)膠之分,劃分為正性光刻和負(fù)性光刻兩種基本工藝。在正性光刻中,正膠的曝光部分結(jié)構(gòu)被破壞,被溶劑洗掉,使得光刻膠上的圖形與掩模版上圖形相同。* ?* q# t; a4 p) O* D
4 |, ^) S. o( m6 X9 E8 X) {相反地,在負(fù)性光刻中,負(fù)膠的曝光部分會(huì)因硬化變得不可溶解,掩模部分則會(huì)被溶劑洗掉,使得光刻膠上的圖形與掩模版上圖形相反。
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我們可以簡(jiǎn)單地從微觀上講解這個(gè)步驟。
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, c3 V7 u/ g$ N$ y! ^ 在涂滿光刻膠的晶圓(或者叫硅片)上蓋上事先做好的光刻板,然后用紫外線隔著光刻板對(duì)晶圓進(jìn)行一定時(shí)間的照射。原理就是利用紫外線使部分光刻膠變質(zhì),易于腐蝕。
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溶解光刻膠:光刻過(guò)程中曝光在紫外線下的光刻膠被溶解掉,清除后留下的圖案和掩模上的一致。 I9 [! }5 j; |7 }8 G
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4 t( K+ R$ i7 x5 \- K “刻蝕”是光刻后,用腐蝕液將變質(zhì)的那部分光刻膠腐蝕掉(正膠),晶圓表面就顯出半導(dǎo)體器件及其連接的圖形。然后用另一種腐蝕液對(duì)晶圓腐蝕,形成半導(dǎo)體器件及其電路。$ p% Z' {) y: g
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清除光刻膠:蝕刻完成后,光刻膠的使命宣告完成,全部清除后就可以看到設(shè)計(jì)好的電路圖案。
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而100多億個(gè)晶體管就是通過(guò)這樣的方式雕刻出來(lái)的,晶體管可用于各種各樣的數(shù)字和模擬功能,包括放大,開關(guān),穩(wěn)壓,信號(hào)調(diào)制和振蕩器。
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( x# @( X' C0 [! Z晶體管越多就可以增加處理器的運(yùn)算效率;再者,減少體積也可以降低耗電量;最后,芯片體積縮小后,更容易塞入行動(dòng)裝置中,滿足未來(lái)輕薄化的需求。
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1 Z( r c# q. A. J6 x+ h5 o 芯片晶體管橫截面
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7 A) B+ u" _( b' ^% Y到了3nm之后,目前的晶體管已經(jīng)不再適用,目前,半導(dǎo)體行業(yè)正在研發(fā)nanosheet FET(GAA FET)和nanowire FET(MBCFET),它們被認(rèn)為是當(dāng)今finFET的前進(jìn)之路。
0 ~5 C9 u% o5 m9 F三星押注的是GAA環(huán)繞柵極晶體管技術(shù),臺(tái)積電目前還沒有公布其具體工藝細(xì)節(jié)。三星在2019年搶先公布了GAA環(huán)繞柵極晶體管,根據(jù)三星官方的說(shuō)法,基于全新的GAA晶體管結(jié)構(gòu),三星通過(guò)使用納米片設(shè)備制造出MBCFET(Multi-Bridge-Channel FET,多橋-通道場(chǎng)效應(yīng)管),該技術(shù)可以顯著增強(qiáng)晶體管性能,取代FinFET晶體管技術(shù)。$ C: B( @. {, l3 N' D2 n3 w
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此外,MBCFET技術(shù)還能兼容現(xiàn)有的FinFET制造工藝的技術(shù)及設(shè)備,從而加速工藝開發(fā)及生產(chǎn)。
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