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一、用途: |
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平面平晶是用于以干涉法測量塊規(guī),以及檢驗塊規(guī)、量規(guī)、零件密封面、 |
測量儀器及測量工具量面的研合性和平面度的 常用工具。 |
適用于光學(xué)加工廠、廠礦企業(yè)計量室、精密加工車間、閥門密封面現(xiàn)場 |
檢測使用,也適用于高等院校、科學(xué)研究等單位做平面度等檢測。 |
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二、主要技術(shù)規(guī)格: |
平面平晶 POF-1 | |
| 1、平面平晶 POF-1 標(biāo)準(zhǔn)外形尺寸1 ?: A& w$ o& J, A; p
單位:mm 3 x- L; ]' `9 i/ c* Z" y$ E
特殊規(guī)格尺寸平面平晶,環(huán)形平面平晶,方形平面平晶可定做. |
環(huán)形平面平晶 POF-2 | 2、平面平晶制成兩種精度: 1級 和 2級 |
| 3、平面平晶工作面的平面度偏差允許值為: |
直徑為 30至60mm
6 Z4 U" H8 e6 p* n8 _1級平晶5 U- u* e4 ~5 a. J2 {9 h
0.03μm |
直徑為
N5 o% V7 k! Y1 p, p2 ~) ]30至60mm
5 j* Q, r% Y8 s" z2級平晶
) O3 ] R; {6 G1 s+ R; Y0 l, X/ a0.1 μm |
直徑為 80至150mm
) Q: f. Y" S) J" Y& h/ y1級平晶. y! `* l0 R" g
0.05μm |
直徑為 80至150mm4 U3 A: M0 n8 z; L
2級平晶. L$ W2 y( c/ m$ I
0.1 μm |
更大尺寸平面平晶平面度偏差允許值,根據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)。 |
方形平面平晶 POF-3 | 4、平面平晶工作面的局部偏差允許值為: ; a& T4 C& h' ]2 E0 R
0.03μm |
| 5、平面平晶測量工作應(yīng)在室溫2 0℃±3℃條件下保持?jǐn)?shù)小時后進行。 |
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鈉光燈 LP-NA600 | 推薦采用標(biāo)準(zhǔn)無頻閃鈉光燈,防止光線頻閃和紫外線對人眼的傷害。 |
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