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有關(guān)X射線殘余應(yīng)力檢測(cè)設(shè)備的那些秘密

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發(fā)表于 2021-4-9 10:58:09 | 只看該作者 回帖獎(jiǎng)勵(lì) |倒序?yàn)g覽 |閱讀模式
X射線衍射法測(cè)量表面殘余應(yīng)力利用布拉格定律,X射線波長(zhǎng)λ、衍射晶面間距d、衍射角2θ之間關(guān)系滿足布拉格方程:
(1)
在已知X射線波長(zhǎng)λ的條件下,布拉格定律把宏觀上可以測(cè)量的衍射角2θ與微觀的晶面間距d建立起確定的關(guān)系。當(dāng)材料中有應(yīng)力存在時(shí),其晶面間距d必然隨晶面與應(yīng)力相對(duì)取向的不同而有所變化,導(dǎo)致衍射峰發(fā)生偏移,通過測(cè)量衍射峰的偏移程度,即殘余應(yīng)變,通過胡克定律由殘余應(yīng)變計(jì)算殘余應(yīng)力值。
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 樓主| 發(fā)表于 2021-4-9 10:59:12 | 只看該作者

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 樓主| 發(fā)表于 2021-4-9 11:02:00 | 只看該作者
X射線的穿透深度較小,只能測(cè)量材料表面的殘余應(yīng)力,如果需要測(cè)量材料內(nèi)部的殘余應(yīng)力,或者測(cè)量應(yīng)力梯度,其能力則顯得有些蒼白。通常解決的辦法是需要采用剝層法。即對(duì)樣品逐層剝離,測(cè)量每層表面的應(yīng)力,然后采用一定的算法扣除因?yàn)閯儗釉斐傻膽?yīng)力松弛,換算成各層真實(shí)的應(yīng)力。但容易受到表面處理方法對(duì)應(yīng)力的影響。
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 樓主| 發(fā)表于 2021-4-9 11:02:46 | 只看該作者
可以無損地測(cè)量構(gòu)件中的應(yīng)力或殘余應(yīng)力,特別適宜于測(cè)量薄層和裂紋尖端的應(yīng)力分布。X射線可以測(cè)定1-2mm很小范圍內(nèi)的應(yīng)力值,是距離表面10μm的應(yīng)力值,若想測(cè)量深度的應(yīng)力也需要對(duì)材料進(jìn)行破壞。當(dāng)被測(cè)工件晶粒不夠細(xì)化不能給出明銳的衍射線時(shí),檢測(cè)精度不高,如退火細(xì)晶材料的檢測(cè)精度可以高達(dá)10MPa,而淬火硬質(zhì)或者冷加工材料的檢測(cè)誤差高出十幾倍。: }; N7 P) ~& ^
被測(cè)試件材料的結(jié)構(gòu)、晶粒的粗細(xì)程度、衍射面的選擇、X射線的波長(zhǎng)、采用的測(cè)量方法、被測(cè)試件表面的平滑度和處理情況等都會(huì)影響檢測(cè)精度。
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 樓主| 發(fā)表于 2021-4-9 11:03:52 | 只看該作者
方法步驟:
(1)除漆劑除去表面防腐油漆,露出管材本體。
(2)采用1000目砂紙手工打磨除去管體表面氧化層,打磨區(qū)域面積2cm×2cm,采用W2.5/4000目金剛石研磨膏進(jìn)行表面拋光。
(3)透明膠帶貼出正方形的待電解拋光區(qū),面積為1cm×1cm,調(diào)節(jié)電解拋光儀電壓,對(duì)該區(qū)域進(jìn)行電解拋光。
(4)調(diào)試u-X360的便攜式X射線應(yīng)力檢測(cè)儀,對(duì)電解區(qū)域進(jìn)行殘余應(yīng)力檢測(cè)。

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 樓主| 發(fā)表于 2021-4-9 11:05:16 | 只看該作者
同時(shí)該檢測(cè)方法僅在室中使用,需要專門的檢測(cè)人員來檢測(cè)操作設(shè)備,施工現(xiàn)場(chǎng)不適合這種檢測(cè)方式;同時(shí)設(shè)備昂貴檢測(cè)費(fèi)用高,國(guó)內(nèi)也僅有少數(shù)實(shí)驗(yàn)室擁有這樣的精密配置。一般對(duì)焊接應(yīng)力、機(jī)械加工應(yīng)力、熱處理應(yīng)力等檢測(cè),建議采用華云盲孔法應(yīng)力檢測(cè)設(shè)備HK21A,該設(shè)備是高等院校應(yīng)力檢測(cè)教學(xué)設(shè)備,操作簡(jiǎn)單,可以在 車間檢測(cè)應(yīng)力使用,一般的工人師傅就可以操作,檢測(cè)精度高,便攜式檢測(cè)設(shè)備,易運(yùn)輸存儲(chǔ)。
- S6 h7 {  q6 E! |

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發(fā)表于 2021-4-9 11:36:29 | 只看該作者
本帖最后由 譬如朝露 于 2021-4-9 11:42 編輯 / m# W" S+ S+ ]% k' L: o/ H( Z  o

" f; X! Q( T# q5 q3 x) E4 x要測(cè)晶格的應(yīng)變,那傳感器的分辨率得多少?噪聲如何去除?這才是秘密吧?有個(gè)關(guān)鍵沒說,小于波長(zhǎng)的變化,是測(cè)不出的。這是現(xiàn)在顯微鏡看不到分子結(jié)構(gòu)的原因。量具量程問題,不是什么都能測(cè)的
8#
 樓主| 發(fā)表于 2021-4-9 15:51:07 | 只看該作者
譬如朝露 發(fā)表于 2021-4-9 11:36, ~: `  ?  J( A: O1 b1 b$ p
要測(cè)晶格的應(yīng)變,那傳感器的分辨率得多少?噪聲如何去除?這才是秘密吧?有個(gè)關(guān)鍵沒說,小于波長(zhǎng)的變化,是 ...

3 k2 a# ]( _5 Z( W  [  u6 d厲害! H  U% E3 Z: W: Z( Q) G, m; h
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發(fā)表于 2021-4-9 17:47:37 | 只看該作者
學(xué)習(xí)了
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發(fā)表于 2021-4-11 21:49:13 | 只看該作者
X射線都來了。

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