采用紋影方法又稱施利倫(Schlieren)方法,是一種經(jīng)典的光學(xué)顯示技術(shù),用于顯示透明物質(zhì)中因種種原因而引起的折射率不均勻。透明物質(zhì)中折射率的變化,引起透過(guò)光線的不均勻偏折,因而導(dǎo)致了最終成像平面上照度的變化(把具有高時(shí)間分辨本領(lǐng)的高速相機(jī)與紋影儀結(jié)合起來(lái),便成為高速紋影儀)
我們是專業(yè)的生產(chǎn)廠家,生產(chǎn)研制范圍包括光纖爆速儀,爆溫儀(瞬態(tài)高溫測(cè)量?jī)x)等等。
l 速度測(cè)試:擁有多普勒全光纖激光干涉測(cè)速儀、無(wú)源光纖探針測(cè)試系統(tǒng)、光網(wǎng)靶彈丸測(cè)速系統(tǒng)等多種速度測(cè)試手段。
l 溫度測(cè)試:擁有瞬態(tài)光學(xué)高溫測(cè)試系統(tǒng)、比色高溫計(jì)、面測(cè)溫等多種測(cè)試手段。
l 成像檢測(cè):擁有紋影系統(tǒng)、超高速相機(jī)、粒子場(chǎng)全息成像等多種檢測(cè)手段。
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