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標(biāo)題: 介紹三種常用的單片機系統(tǒng)RAM測試方法 [打印本頁]

作者: chenzhonwei 時間: 2011-7-4 16:22
標(biāo)題: 介紹三種常用的單片機系統(tǒng)RAM測試方法
方法一：
參考文獻(xiàn)中給出了一種測試系統(tǒng)RAM的方法。該方法是分兩步來檢查，先后向整個數(shù)據(jù)區(qū)送入#00H和#FFH，再先后讀出進(jìn)行比較，若不一樣，則說明出錯。
方法二：
方法1并不能完全檢查出RAM的錯誤，在參考文獻(xiàn)中分析介紹了一種進(jìn)行RAM檢測的標(biāo)準(zhǔn)算法MARCH—G。MARCH一G算法能夠提供非常出色的故障覆蓋率，但是所需要的測試時間是很大的。MARCH—G算法需要對全地址空間遍歷3次。設(shè)地址線為”根，則CPU需對RAM訪問6×2n次。
方法三：
參考文獻(xiàn)中給出了一種通過地址信號移位來完成測試的方法。在地址信號為全O的基礎(chǔ)上，每次只使地址線Ai的信號取反一次，同時保持其他非檢測地址線Aj(i≠j)的信號維持0不變，這樣從低位向高位逐位進(jìn)行；接著在地址信號為全1的基礎(chǔ)上，每次只使地址線Ai的信號取反一次，同時保持其他非檢測地址線Aj(i≠j)的信號維持1不變，同樣從低位向高位逐位進(jìn)行。因此地址信號的移位其實就是按照2K(K為整數(shù)，最大值為地址總線的寬度)非線性尋址，整個所需的地址范圍可以看成是以全0和全1為背景再通過移位產(chǎn)生的。在地址變化的同時給相應(yīng)的存儲單元寫入不同的偽隨機數(shù)據(jù)。在以上的寫單元操作完成后，再倒序地將地址信號移位讀出所寫入的偽隨機數(shù)據(jù)并進(jìn)行檢測。設(shè)地址線為n根，則CPU只對系統(tǒng)RAM中的2n+2個存儲單元進(jìn)行訪問。

作者: 零度開始 時間: 2011-7-4 20:23
這是啥�。繘]看懂。

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