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標(biāo)題: 檢具公差設(shè)計(jì) [打印本頁(yè)]
作者: 戴克伊 時(shí)間: 2020-7-25 11:58
標(biāo)題: 檢具公差設(shè)計(jì)
本帖最后由 戴克伊 于 2020-7-25 11:58 編輯
檢具公差設(shè)計(jì)
檢具設(shè)計(jì)要求：設(shè)計(jì)檢測(cè)兩個(gè)孔∅10±0.2孔的位置度功能檢具。
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第一步：確定理論功能檢具
功能：代表對(duì)手零件最難裝配的狀況。檢具：可以認(rèn)為沒有誤差。這里，檢測(cè)柱銷尺寸極限=孔內(nèi)部邊界IB=9.5，檢測(cè)柱銷放在幾何公差極限，就是0位置度。這是理想狀態(tài)功能檢具。
第二步：確定檢具公差
檢具公差（Gage Tolerance）是5%-10％零件公差，通常應(yīng)用10%并認(rèn)為其中包含了5%的磨損公差。應(yīng)用ASME-Y4.43標(biāo)準(zhǔn)建議最常用的：實(shí)用絕對(duì)檢具公差規(guī)則設(shè)計(jì)檢具（Practical Absolute Tolerancing Gage），這種檢具公差方法，接受不合格零件的幾率是2.5%，拒絕好零件的幾率是7.5%。
檢具基準(zhǔn)A平面度公差0.015 (10%零件公差)
檢具基準(zhǔn)B垂直度公差0.025 (10%零件公差)
檢具基準(zhǔn)C平面度公差0.02 (10%零件公差)
檢具位置度檢測(cè)推銷直徑=孔IB=9.5，檢測(cè)推銷檢具公差0.07 (10%零件位置度和尺寸公差)
ASM-Y4.43標(biāo)準(zhǔn)建議檢具設(shè)計(jì)應(yīng)用0Ⓜ，建議先把零件位置度轉(zhuǎn)化為0Ⓜ，這樣方便計(jì)算零件位置度和尺寸公差總共差（10.2-9.5=0.7），也方便檢具設(shè)計(jì)。
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位置度檢測(cè)推銷直徑=孔IB=9.5，檢測(cè)推銷檢具公差0.07是往檢測(cè)嚴(yán)格方向加檢具公差0.07，也就是說(shuō)，檢測(cè)推銷直徑9.5往粗的方向加0.07的檢具公差：9.5-9.57.
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然后確定檢具材料，加緊裝置，使用標(biāo)準(zhǔn)件，確定檢具設(shè)計(jì)方案，最終確定零件功能檢具設(shè)計(jì)圖紙。
美國(guó)ASME-Y14.43 GD&T檢具和夾具設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn) （ASME-Y14.43 Dimensioning and Tolerancing Principles for Gages and Fixtures） 是世界上唯一關(guān)于檢具設(shè)計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)，簡(jiǎn)單實(shí)用，如果有比較好的GD&T幾何尺寸和公差基礎(chǔ)，就看標(biāo)準(zhǔn)上的案例（類似上面介紹案例）就能學(xué)會(huì)檢具設(shè)計(jì)。
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戴克伊《GD&T檢測(cè)和檢具設(shè)計(jì)》2018版（142頁(yè)-A4）詳細(xì)解讀ASME-Y14.43標(biāo)準(zhǔn)，檢測(cè)是設(shè)計(jì)和制造的基礎(chǔ)，檢具是快速準(zhǔn)確判斷零件尺寸，形狀，方向，位置是否合格的最有效工具。掌握檢測(cè)和檢具基本原則，專用和通用檢具特點(diǎn)，選擇最佳尺寸公差檢測(cè)方法。確定檢具設(shè)計(jì)，尺寸公差邊界，幾何公差實(shí)效邊界，檢具公差和磨損公差。 掌握通止規(guī)，剛性件/柔性件等各種功能檢具，檢具工裝卡具，各種不同要求檢具公差和磨損公差設(shè)計(jì)應(yīng)用。 掌握各種通用檢具，檢測(cè)平臺(tái)，圓度儀、投影儀，三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x等應(yīng)用和檢測(cè)計(jì)算，分析數(shù)據(jù)，制做檢測(cè)報(bào)告。
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作者：Mike龍 美國(guó)ASME-Y14.43、Y-14.8、Y14.48標(biāo)準(zhǔn)委員，美國(guó)戴克伊公司亞洲區(qū)代表
戴克伊美國(guó)GD&T專家 擁有美國(guó)強(qiáng)大的GD&T專家團(tuán)隊(duì)，是美國(guó)ASME標(biāo)準(zhǔn)列出的GD&T培訓(xùn)機(jī)構(gòu)。戴克伊有11位ASME-Y14系列（Y14.5，14.43，14.8）標(biāo)準(zhǔn)委員，是標(biāo)準(zhǔn)作者，戴克伊創(chuàng)始人Don Day是Y14.8主席，Y14系列標(biāo)準(zhǔn)主席，戴克伊首席咨詢師Frank Bakos，是Y14.5標(biāo)準(zhǔn)創(chuàng)始人之一，主導(dǎo)創(chuàng)立了Y14系列標(biāo)準(zhǔn)，戴克伊35年深度參與制定標(biāo)準(zhǔn)，戴克伊是標(biāo)準(zhǔn)創(chuàng)始人和標(biāo)準(zhǔn)作者。
作者: 未來(lái)第一站 時(shí)間: 2020-7-25 18:25
學(xué)習(xí)了。
作者: 苗Cowell2018 時(shí)間: 2022-1-11 14:14
希望可以獲取圖里的這本學(xué)習(xí)資料
作者: 苗Cowell2018 時(shí)間: 2022-1-11 14:15
希望可以獲取這本學(xué)習(xí)資料
作者: fengying66550 時(shí)間: 2022-1-15 08:49
學(xué)習(xí)
作者: jkwjbvjwb 時(shí)間: 2022-1-15 09:42
希望可以獲取這本學(xué)習(xí)資料
作者: JIYI0011 時(shí)間: 2022-5-13 09:48
學(xué)習(xí)了
作者: JIYI0011 時(shí)間: 2022-5-13 09:49
學(xué)習(xí)了
作者: 戴克伊 時(shí)間: 2022-6-12 11:25
聯(lián)系作者可以獲得這個(gè)資料，這里只能上傳最多5M資料。
作者: 13156599826 時(shí)間: 2022-8-21 11:10
求一份這個(gè)資料，感謝
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